| TERMIKUS VIZSGÁLATOK | |
| Bevezetés | 13 |
| Differenciális termikus analízis (DTA) (Nemecz Ernő) | 15 |
| A DTA-készülékek felépítése | 15 |
| Kemence | 16 |
| Mintatartó | 17 |
| Hőelemek (termoelektromos pirométerek) | 19 |
| Regisztráló berendezések | 23 |
| Speciális készülékek | 24 |
| A DTA-felvétel készítése és a görbe jellegzetességei | 25 |
| A csúcsjellemzőket befolyásoló tényezők | 27 |
| A készülék szerkezeti felépítésének szerepe | 27 |
| A hevítési sebesség hatása a DTA-görbére | 28 |
| A minta-előkészítés szerepe | 29 |
| Ásványok minőségi meghatározása DTA-sel | 31 |
| Ásványok mennyiségi meghatározása DTA-sel | 35 |
| A mennyiségi elemzés alapelve | 35 |
| A mennyiségi elemzés gyakorlati kivitelezése | 38 |
| Termogravimetria (Nemecz E.) | 41 |
| Mérés termomérleggel (a TG-görbe) | 42 |
| Derivatográfia (Nemecz E.) | 47 |
| Irodalom | |
| Fázisdiagramok (Grasselly Gyula) | |
| A fázistörvény | 53 |
| Fázisdiagramok felvétele, szerkesztése | 56 |
| A koncentráció ábrázolásmódja a fázisdiagramon | 59 |
| Fázisok összetételének, illetve mennyiségének meghatározása | 61 |
| Kétkomponensű egyszerű eutektikus rendszer | 61 |
| Kétkomponensű rendszer kongruens olvadáspontú vegyületképzéssel | 67 |
| Leucit (KAlSi2O6) - SiO2-rendszer kristályosodása | 69 |
| Hézagmentes elegykristály fázisdiagramja | 73 |
| Háromkomponensű rendszerek | 76 |
| OPTIKAI VIZSGÁLATOK ÁTLÁTSZÓ ÁSVÁNYOKON (Grasselly Gyula) | |
| A polarizációs mikroszkóp | 91 |
| A mikroszkóp felépítése és működése | 91 |
| Objektívek és okulárok | 95 |
| A mikroszkóp hasznos nagyítása és feloldóképessége | 99 |
| Egyszerűbb mikroszkópi mérések | 103 |
| Hosszúságmérés mikroszkópban | 103 |
| Hosszúság mérése mikrométer-okulárral | 103 |
| Hosszúság mérése a mikroszkópi kép kivetítésével | 106 |
| Hosszúságmérés keresztasztallal | 107 |
| Ásványos elegyrészek mennyiségének meghatározása | 107 |
| Elemzés hálózatos mikrométer-okulárral | 107 |
| Térfogatelemzés integrációs asztallal | 109 |
| Lemezvastagság mérése mikroszkópban | 114 |
| A nagyítás mértékének meghatározása mikrofényképezésnél | 115 |
| Megvilágítási idő meghatározása mikrofényképezésnél | 116 |
| A törésmutató meghatározása | 119 |
| Fénytörés | 119 |
| Teljes visszaverődés | 122 |
| A törésmutató meghatározása Abbe-refraktométerrel | 123 |
| A törésmutató meghatározása mikroszkópban | 130 |
| Becke-féle módszer | 130 |
| Immerziós módszer | 132 |
| A kioltási szög és mérése | 137 |
| Segédlemezek, kompenzátorok alkalmazása | 141 |
| Az addíció és szubtrakció jelensége | 141 |
| Anizotróp lemez rezgésirányainak meghatározása | 143 |
| Útkülönbség meghatározása kompenzátorokkal | 145 |
| Berek-kompenzátorral | 145 |
| Ehringhaus-kompenzátorral | 148 |
| Babinet-kompenzátorral | 152 |
| Kvarcékkel, a Michel-Lévy-színtábla segítségével | 154 |
| Kristályok optikai forgatóképességének vizsgálata | 159 |
| Kvarclemez vizsgálata linárisan poláros, monokromatikus fényben | 161 |
| A forgatás irányának megállapítása | 162 |
| Kvarclemez vizsgálata lineárisan poláros összetett fényben | 163 |
| Interferenciaképek (tengelyképek) vizsgálata | 165 |
| Optikailag egytengelyű kristályok tengelyképe | 166 |
| Optikailag kéttengelyű kristályok tengelyképe | 171 |
| Anomális tengelyképek | 178 |
| Optikai tengelyszög meghatározása | 179 |
| Az optikai jelleg meghatározása a tengelyképen segédlemezekkel | 182 |
| Optikailag egytengelyű kristályok | 182 |
| Optikailag kéttengelyű kristályok | 185 |
| Irodalom | |
| Fjodorov-féle optikai vizsgálat (Buda Gy.) | 189 |
| A Fjodorov-féle univerzál asztal alkalmazása | 189 |
| A készülék leírása | 190 |
| A Fjodorov-féle univerzál asztal részei | 190 |
| A Fjodorov-asztal felszerelése és centrálása | 193 |
| Objektívek és hemiszférák | 194 |
| Az indikatrix meghatározása | 196 |
| Izotróp kristály | 196 |
| Optikailag egytengelyű kristály | 196 |
| Optikailag kéttengelyű kristály | 197 |
| Kristálymorfológiai elemek rögzítése | 198 |
| A morfológiai és optikai irányok ábrázolása | 198 |
| A kettőstörés meghatározása | 200 |
| Piroxének vizsgálata | 201 |
| Plagioklászok vizsgálata univerzál asztallal | 204 |
| Anortittartalom meghatározása a hasadás alapján | 204 |
| Plagioklászok An%-ának és ikertörvényének meghatározása | 205 |
| Irodalom | |
| OPAK ÁSVÁNYOK VIZSGÁLATA | |
| Opak ásványok mikroszkópos vizsgálata (Sztrókay Kálmán Imre) | 211 |
| Bevezetés | 211 |
| Érccsiszolat-készítés | 212 |
| A kész csiszolat tárgylemezre-szerelése (montírozása) | 218 |
| A felszíni film (Beilby-réteg) kialakulása | 218 |
| A felületmegvilágítás módjai | 220 |
| "Belső" vagy vertikális megvilágítás | 220 |
| Külső (ún. sötétmezős) felületmegvilágítás | 224 |
| Megvilágító fényforrások | 227 |
| Reflexióképesség. Bireflexió | 230 |
| Abszorbeáló közegben haladó fénysugár sajátságairól | 230 |
| A reflexióképesség közönséges állapotú fény alkalmazásakor | 238 |
| Anizotróp kristályfelület reflexiós sajátságai | 242 |
| Az anizotróp színhatás | 248 |
| Az anizotrópia észlelése | 250 |
| Példák az anizotrópia megnyilvánulásaira | 251 |
| Gyakorlati útmutatás a szín és reflex helyes megítéléséhez | 251 |
| Olajimmerzió alkalmazása | 253 |
| A fényvisszaverő-képesség mérése (Balyi K.) | 258 |
| Mérések a Berek-féle rés-mikrofotométerrel | |
| Az opak ércfelület egyéb sajátságai (Sztrókay K. I.) | 275 |
| Belső reflex | 275 |
| Az opak felszínen jelentkező keménység és hasadás | 276 |
| Opak ásványok felületelemző vizsgálata | 279 |
| Bevezetés | 279 |
| Az egyszerű felületétetés | 281 |
| A meghatározó (diagnosztizáló) étetés | 281 |
| Szövedék- és szemcseszerkezet-étetés (struktúraétetés) | 283 |
| Lenyomatos eljárások (Grasselly Gy.) | 285 |
| Kontakt lenyomatos eljárás | 285 |
| Elektrográfiai lenyomatos eljárás | 296 |
| Irodalom | |
| ÁSVÁNYOK RÖNTGENELEMZÉSE (Nemecz Ernő) | |
| Bevezetés | |
| A röntgensugár tulajdonságai | 321 |
| Röntgensugár előállítása | 321 |
| A karakterisztikus sugárzás természete | 323 |
| A röntgensugarak abszorpciója. Fluoreszcencia. Szűrők használata | 325 |
| A röntgendiffrakció geometriája | 329 |
| Alapegyenletek | 329 |
| Elhajlás pontsoron | 330 |
| Elhajlás síkhálón | 341 |
| Elhajlás térrácson | 358 |
| Porfelvételi eljárások | 368 |
| Elhajlási irányok rögzítése filmen | 368 |
| Debye-Scherrer-eljárás | 368 |
| Fókuszáló felvételi eljárások | 380 |
| Elhajlási irányok észlelése számlálócsövekkel | 383 |
| A diffraktométeres felvételi eljárás elve | 383 |
| A diffraktométer felépítése és működése | 383 |
| A goniométer és sugárforrás geometriájának befolyása az elhajlási maximumok alakjára | 386 |
| A preparátumtényezők szerepe a felvétel készítésében | 396 |
| A detektáló műszer | 402 |
| Impulzusszámláló berendezések | 410 |
| Diffraktométeres felvétel készítésének menete | 415 |
| Porfelvételi diagramok értékelése | 417 |
| Elhajlási irányok mérése | 417 |
| Porfelvételi filmek kimérése | 417 |
| Diffraktogramok kimérése | 424 |
| A reflexió intenzitása | 426 |
| Intenzitás mérése filmes módszerek esetén | 426 |
| Intenzitásmérés diffraktométerrel | 430 |
| A reflexiókhoz tartozó indexek megállapítása | 436 |
| Indexelés nomogram segítségével | 437 |
| Indexelés analitikai úton | 441 |
| Indexelés a reciprok rács felhasználásával | 449 |
| Indexelés rombos rendszerben | 450 |
| Diagramok kiértékelése | 457 |
| A minőségi határozás menete | 459 |
| Elegykristályok röntgenképe | 470 |
| Ásványkeverékek mennyiségi analízise | 473 |
| A mennyiségi elemzés kivitele | 476 |
| Irodalom | |
| Név- és tárgymutató | 487 |
Folytatás Microsoft-tal