Emissziós színképelemzés

Gyakorlati rész

Szerző

Szerkesztő

Lektor

Budapest

'Mika József: Emissziós színképelemzés ' összes példány

Kiadó:	Akadémiai Kiadó
Kiadás helye:	Budapest
Kiadás éve:	1974
Kötés típusa:	Vászon
Oldalszám:	717 oldal
Sorozatcím:
Kötetszám:
Nyelv:	Magyar
Méret:	24 cm x 17 cm
ISBN:	963-05-0491-X
Megjegyzés:	Fekete-fehér ábrákkal illusztrált.

Értesítőt kérek a kiadóról

A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról

Fülszöveg

Az Emissziós színképelemzés II. kötete a módszer gyakorlati alkalmazási területeit (kohászat, vegyipar, biológia, kriminalisztika stb.) mutatja be. Célja, hogy mind a tudományos, mind az ipari szakember számára lehetővé tegye a munkájához legmegfelelőbb eljárás kiválasztását és felhasználását. Ismerteti a különféle anyagok mintavételét és vizsgálatra való előkészítését. Ezután a vizsgálatot befolyásoló fizikai és kémiai hatások bemutatása következik. Mindezeket a legkorszerűbb elméleti összefüggések és gyakorlati tapasztalatok, megfigyelések alapozzák meg. Külön-külön fejezet foglalkozik a legmodernebb spektrográfiás, spektrometriás és spektroszkópos elemzési eljárásokkal, valamint gyakorlati kivitelükkel. A szerzők összefoglalják a hibaszámításra vonatkozó matematikai-statisztikai módszereket is. Táblázatok sora segíti elő a könyv gyakorlati felhasználását. Az egyes fejezeteket gazdag irodalomjegyzék zárja le.

Tartalom

Bevezetés
A vizsgálati anyag előkészítése
Általános szempontok	17
Fémek, ötvözetek mintavétele és előkészítése	18
Általános megjegyzések	18
Mintavétel félkész- és készáru elemzéséhez	20
Forgácsminták vétele. Forgácsok, fémporok, kisméretű tömegtermékek előkészítése	21
Öntött próbák vétele és előkészítése	25
Kontakt mintavétel	30
Összehasonlító minták, etalonok, ellenőrző és beállító próbák	31
Nagy tisztaságú fémek előkészítési problémái. Elemnyomok dúsítása. Záródmányok izolálása	34
Nemvezető szilárd anyagok mintavétele és előkészítése	38
Általános szempontok	38
Az anyag porítása és homogenizálása. Adalékok	41
Brikettezés	46
Feltáró ömlesztés	47
Savas, lúgos elbontás. oldás	49
Nyomelemek dúsítása fizikai eljárással	51
Szilárd szerves anyagok előkészítése színképelemzéshez	51
Nagy tisztaságú nemvezető anyagok és radioaktív anyagok különleges problémái	53
Összehasonlító minták, etalonok. Vonatkoztató anyagok	55
Oldatok és cseppfolyós anyagok mintavétele és előkészítése	56
Általános szempontok	56
Nyomelemek dúsítása oldatból kémiai eljárással	57
Nemvizes oldatok, cseppfolyós szerves anyagok előkészítése	73
Oldatos összehasonlító minták készítése. Vonatkoztató anyagok, adalékok	73
Gázok mintavétele és előkészítése	75
Általános megjegyzések	75
Gázok elválasztása fizikai és kémiai eljárással	76
Vonatkoztató anyagok, etalonok	77
Sugárforrások
Általános megjegyzések	79
Sugárforrások fémminták vizsgálatához	80
Azonos anyagú elektródpáros eljárás	80
Ellenelektródos eljárás	85
Kis tömegű fémminták elgőzölögtetése	88
Forgatott fémminták	92
A kisülés stabilizálása gázárammal és külső mágneses térrel	94
Kisülés kisnyomású gázokban	98
Közbenső standardos eljárás	100
Fémolvadék-elektródos eljárás	102
Helyi mikroszínképelemzés	106
Sugárforrások nemvezető szilárd anyagok vizsgálatához	111
Porminták elgőzölögtetése segédelektród furatából	111
Brikettek gerjesztése	119
Ív stabilizálása segédeszközökkel	123
Részleges elgőzölögtetés különleges berendezésekkel	125
Porminták folyamatos bevitele a sugárforrásba	129
Porok folyamatos beszórása a kisülésbe	132
Szilárdszemcsés aeroszol előállítása és befúvatása a kisülésbe	135
Nehezen gerjeszthető elemek vizsgálata	130
Lézer-mikroszínképelemzés. Biológiai vizsgálatok	143
Sugárforrások nemvezető cseppfolyós anyagok, oldatok vizsgálatához	145
Elektródra szárított anyag vizsgálata	145
Kapilláriselektródos eljárás	150
Szivárgóelektródos eljárás	152
Forgókorongos eljárás	155
Porlasztásos eljárás	160
Oldat betáplálása stabilizált ívbe, plazmaégőbe, nagyfrekvenciás plazmalángba	167
Sugárforrások gázok vizsgálatához	170
Általános megjegyzések	170
Gázkeverékek elemi összetételének meghatározása kisülési csövekben	171
Fémek gáztartalmának meghatározása	173
Gázok fémtartalmának vizsgálata	175
A vonalak intenzitását befolyásoló kísérleti körülmények
Általános szempontok	177
Összefüggés a koncentráció és a vonalak intenzitásviszonya között	177
A gerjesztés körülményeinek szerepe	180
A gerjesztés elektromos paramétereinek hatása	182
A gerjesztés időtartamának hatása	182
Az elemzőköz geometriai adatainak befolyása	188
Külső mágneses tér szerepe az egyenáramú ívgerjesztésnél	192
A minta állapotváltozásainak hatása	199
A minta fizikai állapotának szerepe	199
Az elemek közötti hatás	202
A pufferhatás	212
A vivőhatás	216
A diffúzió szerepe	218
A minta kémiai jellemzőinek szerepe	223
Az elemző fényforrást körülvevő gázatmoszféra szerepe	230
Az idegen sugárzások és az abszorpció hatása	240
Általános megjegyzések	240
A háttérsugárzás	242
A vonalegybeesés	242
A külső szennyezés sugárzása	244
Az önabszorpció	245
A plazma sugárzásának térbeli és időbeli eloszlása	246
Általános megjegyzések	246
A sugárzás térbeli eloszlása	247
A sugárzás időbeli eloszlása	251
A vonatkoztató elem, az összehasonlító minták és az elemzővonalpárok kiválasztása	253
Általános szempontok	253
A vonatkoztató elem	254
Az összehasonlító minták	254
Az elemzővonalpárok	255
Spektrográfiás elemzés
Bevezetés	259
Az eljárás alapelve, felosztása és jelentősége	259
Színképlemezek és filmek	260
Színképfelvételek előhívása	262
A fotoemulziók rögzítése, kimosása és szárítása	267
A felvételek gyors kidolgozása	268
Az elemek spektrográfiás kimutatása	270
Az eljárás alapja	270
Elemek általános kimutatására alkalmas színképek elkészítése	274
Színképek minőségi kiértékelése	277
Elemnyomok kimutatása	282
A kimutatási határ	287
Tájékoztató elemzés	294
Az eljárás lényege	294
Az összehasonlító színképek módszere	296
Utolsó vonalak módszere	298
A homológ vonalpárok módszere	300
Az izomelán eljárás	303
Harvey módszere	308
Hígításos és teljes elpárologtatásos eljárások	309
Logaritmusos forgótárcsás módszer	312
A színvonal-szélesség mérésén alapuló módszerek	315
Effektív vonalszélességen alapuló eljárások	319
A különböző mennyiségi kiértékelő eljárások	322
Általános szempontok	322
Összehasonlító mintás eljárások	323
Általános analitikai görbés módszer	327
Beállító mintás módszer	330
Addíciós módszer	334
A hozzáadás és hígitás módszere	342
A hígítás, hozzáadás és hígítás módszere	345
Az "izosec" és "anizosec" kompenzáció módszere	347
A mennyiségi kiértékelés alapműveletei	352
Általános szempontok	352
A fotometrálás	354
Az emulzióhitelesítés általános alapelvei	360
Az intenzitásjelpárok	361
A P-transzformáció gyakorlati kivitele	364
Az l-transzformácó gyakorlati alkalmazása	368
A háttérkorrekció	373
Zavaróvonal-korrekció	374
Vakérték-korrekció	375
A cx koncentráció kiszámítása a c'x relatív koncentrációból	383
Kiértékelő készülékek	386
Általános megjegyzések	386
Részletkiértékelő készülékek	387
Teljes kiértékelő padok és lécek	399
Színképfelvételek teljesen automatizált kiértékelése	408
Munkaelőírások a spektrográfiás elemzéshez	417
Általános megjegyzések	417
Acélelemzés	417
Alumíniumötvözetek elemzése	420
Rézötvözetek elemzése	421
Ólomötvözetek elemzése	422
Magnéziumötvözetek elemzése	422
Cinkötvözetek elemzése	422
Nemvezető anyagok elemzése	422
Új módszerek kidolgozása	423
A spektrográfiás laboratórium telepítése, munkaszervezése és gazdaságossága	427
A műszerek és segédberendezések megválasztása	427
A laboratóriumi helyiségek kialakítása	429
A laboratórium munkaszervezése	431
Munkavédelem	433
Gazdaságossági számítások	434
Spektrometriás elemzés
Az eljárás elnevezése és kifejlődése	437
A spektrometriás elemzési eljárás alapelveiről általában	439
A spektrométeres berendezések alapelvei	439
A berendezések osztályozása	439
Intenzitásmérő adapterek	441
Letapogató spektrométerek	4444
Rögzített kilépőrésű sokcsatornás spektrométerek	446
Különleges közvetlenleolvasó berendezések	449
A spektrometriás kiértékelés	455
Általános megjegyzések	455
Az intenzitásviszony mérésén alapuló kiértékelés alapelvei	455
Vonatkoztatóelem-korrekció	463
Többcsatornás intenzitásviszony-mérő kiértékelés módszerei	469
Többcsatornás elektromos analóg számítógépes kiértékelő berendezések elve	471
Kiértékelés digitális számítógépes eljárással	477
Az intenzitásviszony logaritmusának mérésén alapuló kiértékelés alapelve	479
A legkedvezőbb kísérleti körülmények megválasztása és a módszerek alkalmazása	484
Általános szempontok	484
Az elemzővonalpárok megválasztása	485
Fémelemzés	487
Nemvezető és egyéb nemfémes anyagok elemzése	488
A spektrometriás és spektrográfiás eljárás összehasonlítása	489
A spektrometriás laboratórium telepítése, munkaszervezése és gazdaságossága	495
A készülékek és segédberendezések megválasztása	495
A laboratórium telepítése	497
A munkaszervezés	498
A laboratórium gazdaságossága	498
Spektroszkópos elemzése
Az eljárás lényege, jellemvonásai és alkalmazási területe	501
Mintavétel és előkészítés	502
Gerjesztés	504
A spektroszkópok	507
Általános szempontok	507
Egyszerű spektroszkópok	508
Intenzitásmérő spektroszkópok	511
Hordozható spektroszkópok	519
Kombinált spektroszkópok	521
A kiértékelő eljárások alapelvei	523
Általános szempontok	523
Az elemzővonalak kiválasztása	523
Összehasonlító színképek módszere	525
Az utolsó vonalak módszere	526
Kronométeres kiértékelő eljárás	527
A homológ vonalpárok módszere	527
Kiértékelés az intenzitásviszony mérésével	528
A spektroszkópos elemzés gyakorlati kivitele	530
Általános megjegyzések	530
Acélelemzés	531
Alumíniumötvözetek elemzése	532
Rézötvözetek elemzése	533
Egyéb fémötvözetek és nemvezető anyagok vizsgálata, új módszerek kidolgozása	533
A spektroszkópos laboratórium telepítése, munkaszervezése és gazdaságossága	534
A laboratórium berendezése és telepítése	534
Munkaszervezés, munkavédelem	536
A spektroszkópos laboratórium gazdaságossága	538
A mérési eredmények értékelése
A hibaszámítás alapjai	541
A középérték és a véletlen hiba	541
A hibaeloszlás és a megbízhatósági intervallum	543
Kiugró mérési eredmények statisztikai meghatározása	547
Két középérték összehasonlítása	548
Több párhuzamos mérési sorozat középértékeinek összehasonlítása	549
A hibák tovaterjedésének törvénye	551
A rendszeres hiba	551
A mérési pontok által meghatározott legvalószínűbb egyenes megszerkesztése	553
A hibaszámítás alkalmazása a mennyiségi színképelemzés területén	554
A mennyiségi színképelemzés mérési eredményeinek matematikai-statisztikai értékelése	554
A szórásdiagram	557
Homológ vonalpárok kiválasztása szórásdiagram segítségével	561
Homogenitásvizsgálatok	564
Táblázatok
Néhány fizikai-kémiai állandó	567
Hullámhossz-táblázatok a spektrográfiás minőségi elemzéshez	609
Homológvonalpár-táblázatok a spektrográfiás tájékoztató elemzéshez	619
Számtáblázatok a spektrográfiás mennyiségi elemzéshez	629
Táblázatok a spektroszkópos elemzéshez	689
Táblázatok a mérési eredmények hibaszámításához	699
Tárgymutató	708
Hibajegyzék az Elméleti Részhez	713

Témakörök

Természettudomány > Fizika > Fénytan
Természettudomány > Fizika > Kísérletek
Természettudomány > Fizika > Társtudományok > Kémia
Természettudomány > Kémia > Általános kémia > Kémiai analízis
Természettudomány > Kémia > Kísérletek, gyakorlatok > Kísérletek
Természettudomány > Kémia > Kísérletek, gyakorlatok > Mérések, eszközök
Természettudomány > Kémia > Társtudományok > Fizika

Megvásárolható példányok

Nincs megvásárolható példány
A könyv összes megrendelhető példánya elfogyott. Ha kívánja, előjegyezheti a könyvet, és amint a könyv egy újabb példánya elérhető lesz, értesítjük.

Előjegyzem