Mikroprocesszor alapú rendszerek hibakeresése

Szerző

Fordító

Grafikus

Lektor

Budapest

'G. B. Williams: Mikroprocesszor alapú rendszerek hibakeresése ' összes példány

Kiadó:	Műszaki Könyvkiadó
Kiadás helye:	Budapest
Kiadás éve:	1989
Kötés típusa:	Ragasztott papírkötés
Oldalszám:	175 oldal
Sorozatcím:
Kötetszám:
Nyelv:	Magyar
Méret:	24 cm x 17 cm
ISBN:	963-10-7772-1
Megjegyzés:	89 fekete-fehér ábrával illusztrálva. Tankönyvi száma: 61 435.

Értesítőt kérek a kiadóról

A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról

Fülszöveg

Ez a könyv a "Mérnöki gyakorlat anyagai" c. sorozat egyike. Ez a sorozat is felhívja a figyelmünket arra, hogy egy ipari termék sikerének feltétele a rajzasztalon született tervezési elképzelések gyakorlati realizálhatósága.
Egy ország gazdasága alapvetően az anyagoknak a műszaki gyakorlatban való átalakításán és megmunkálásán alapszik. Minden anyag - a fémek és ötvözeteik, a kerámiák és a műanyagok - különleges tulajdonságokkal rendelkezik. E tulajdonságok ismerete nélkül nem tudnánk előnyösen hasznosítani őket.

Tartalom

Előszó	9
Bevezetés	11
Jelölések	13
Bevezetés a mikroprocesszoros rendszerekbe	15
A digitális számítógép	15
Sínszervezésű rendszerek	16
Memóriába ágyazott B/K rendszer	18
Háromállapotú vonalak	19
Címdekódolás	21
Mikrovezérlők	26
Programozási szintek	27
A rendszertesztelés problémái	31
A hardver- és szoftverhibák szétválasztása	31
Az időben soros, bitpárhuzamus működés	32
Sínmultiplexelés	32
LSI elemek tesztelésének problémája	32
A rendszer központi része	34
A központi vezérlőegység tesztelése	35
ROM-tesztelés	35
RAM-tesztelés	37
A bemeneti/kimeneti rendszer tesztelése	39
Néhány tipikus hiba	40
A tápegységek hibái	41
A rendszer órajel-generátora	44
A RESET áramkör	44
Megszakítások	46
Tárolóegységek	48
Jeltorzulások	49
A rendszertesztelés filozófiája	50
Öntesztprogramok	51
A valódi és látszólagos hibák	52
Az integrált áramkörök élettartama	53
Túlterhelés-vizsgálatok	55
A mechanikai túlterhelés-vizsgálat	55
A termikus túlterhelés-vizsgálat	55
Elektromos túlterhelés-vizsgálat	56
Hibabehatárolás	56
Hibakeresési folyamatábra	58
A hagyományos ellenőrző berendezések használata	61
Multiméterek	61
Frekvenciamérők	62
Az oszcilloszkóp	62
A hagyományos mérőműszerek alkalmazásának korlátai	66
Kéziműszerek	67
Logikai teszterek	67
Néhány, kereskedelemben kapható logikai teszter	71
A logikai teszter használata	72
Logikai impulzusadók	73
A logikai impulzusadók használata	74
A logikai impulzusadók és logikai teszterek együttes használata	76
Az áramdetektor	77
Az áramdetektor használata	79
A logikai impulzusadó és az áramdetektor együttes használata	80
Logikai komparátorok	84
A kéziműszerek használatának korlátai	85
Logikai analizátorok	87
Logikai állapotanalizátorok	88
Logikai időzítésanalizátorok	96
Megjelenítési módok	99
A térképmódszer	99
Bináris megjelenítés	102
Hexadecimális megjelenítés	103
Assembly nyelvű formátum	105
Az időzítésanalizátorok megjelenítési formátumai	106
Speciális kódolt formák	106
A logikai analizátorok tulajdonságai	106
Események számlálása	107
Időtartammérés logikai állapotanalizátorokkal	108
Az indítási tartományok és az indítási események előfordulása	110
Elő- és utóindítás	110
Egyedi modulok	111
A logikai időzítésanalizátorok működési feltételei	111
A logikai analizátorok kiegészítő egységei	112
Bitminta-analízisen alapuló vizsgálati módszer	113
A digitális hullámformák természete	113
Átmenetszámlálás	114
Az átmenetszámlálási technika hibadetektálási valószínűsége	115
Ciklikusredundancia-ellenőrző kódok	118
Jelzőszám-analízis	121
A jelzőszám-analízis eredményességének valószínűsége	122
Hibafelderítés jelzőszám-analízissel	126
Egyszerű jelzőszám-analizátor	128
Rendszerek szabadon futó vizsgálata jelzőszám-analizátorral	132
ROM szabadon futó módszeres ellenőrzése	135
Tesztciklusok jelzőszám-analízishez	136
Jelzőszám-analízis utólagos beépítése	137
A jelzőszám-analízis korlátai	138
A jelzőszám-analízis mint általános tesztelési eljárás	139
Emuláció	140
Fejlesztőrendszerek	141
A szövegszerkesztő (editor) program	142
A fájlkezelő	143
Szerkesztő/betöltő program	143
A B/K eszközök vezérlőprogramjai	143
Assemblerek	144
Fordítóprogramok	145
A memóriamanager	146
Hibajavító (debugger) program	147
Valós idejű analizátor	148
EPROM programozó	148
Áramkörön belüli (in-circuit) emulátorok	148
Fejlesztőrendszerek használata rendszertesztelésre	149
Önellátó emulátorok	149
Öntesztelő és diagnosztikai programok	151
Öntesztelő rutinok	151
ROM-tesztelés	152
RAM-tesztelés	153
Diagnosztikai tesztek	156
Egyszerű B/K teszt	157
Diagnosztikai tesztek indítása	158
Perifériákkal kapcsolatos funkciók tesztelése	160
Példa alrendszer funkcionális vizsgálatára	160
Soros adatátviteli vonalak vizsgálata	162
Soros adatátviteli protokollok	165
Átviteli sebesség	167
Aszinkron adatátviteli illesztőegység	167
Az IEEE-488 sínrendszer	170
A GPIB sínrendszer felépítése	171
Egy példa a GPIB sínen történő adatátvitelre	174
GPIB sínjeleinek vizsgálata	175
Irodalom	176