| Alapfogalmak | 7 |
| Spektrokémiai információk és anyagszerkezet | 7 |
| Vizsgálati minta | 9 |
| Sugárforrások jellemzése | 11 |
| Az optikai emissziós szinképelemzés folyamatai és műveletei | 12 |
| A kézirat anyagához ajánlott alapvető irodalom | 13 |
| Plazmaparaméterek meghatározása | 15 |
| Termikus plazma jellemzői | 15 |
| Plazmahőmérséklet | 16 |
| Ionizációs állapot, elektronkoncentráció | 19 |
| Egyenáramu IV. | 21 |
| Az ivgerjesztés sajátosságai | 21 |
| Elektromos stabilitás | 22 |
| Ivstabilizálás gázárammal és hütött tárcsával | 24 |
| Ivstabilizálás külső mágneses térrel | 28 |
| Egyenáramu plazmaégő | 31 |
| Az egyenáramu plazmaégő felépítése és működése | 31 |
| Vecsernyés-féle plazmaégő | 33 |
| Kranz-féle plamaégő | 34 |
| Vizsgálati minták bejuttatása a spektrokémiai sugárforrásba | 35 |
| Korszerü folyamatos aeroszol-betáplálási módok | 35 |
| Benkő-Tóth-féle porbetáplálás | 36 |
| Oldatok pneumatikus porlasztási eljárásai | 36 |
| Ultrahang-porlasztás | 38 |
| Különleges aeroszol-előállítási és betáplálási eljárások | 39 |
| Nagyfrekvenciás plazmakisülés | 43 |
| Nagyfrekvenciás plazmatípusok | 43 |
| Induktív csatolásu nagyfrekvenciás plazma /HF-ICP/ | 43 |
| Mikrohullámu plazmaégők /MIP, CMP/ | 45 |
| Szikrakisülések fémminták és oldatok vizsgálatára | 47 |
| A szikragerjesztés jellemzői | 47 |
| Nagyfeszültségü szikragerjesztés és alkalmazása | 48 |
| Közép- és kisfeszültségü szikragerjesztés | 5, |
| Gázkisülési sugárforrások | 55 |
| Kisülések ritkitott nemesgáz-atmoszférában | 55 |
| Üregkatódos kisülés | 56 |
| Grimm-féle glimmkisülési sugárforrás | 57 |
| Lézer-mikroszinképelemzés | 59 |
| A lézer felépítése és működése | 59 |
| Helyi mikroszinképelemzés segédszikrával összekapcsolt lézerrel | 64 |
| A lézergerjesztés további lehetőségei | 65 |
| A sugárzás felbontása hullámhossz szerint | 67 |
| A szinkép előállításának elve | 67 |
| Prizmás és rácsos felbontás | 67 |
| Fourier-transzformációs spektroszkópia | 74 |
| Hadamard-transzformációs spektroszkópia | 77 |
| A sugárzás detektálása | 81 |
| A detektálási eljárások elve | 81 |
| Spektrográfiás vizsgálatok | 82 |
| Spektrometriás módszerek | 83 |
| A sokelemes detektálás távlatai | 85 |
| Korszerű spektrográfiás kiértékelő eljárások | 87 |
| A pontos feketedésmérés feltételei | 87 |
| Feketedéstranszformáció | 88 |
| Sugárzáskorrekció | 91 |
| Az elemzőgörbe. A kiértékelés automatizálása | 93 |
| Atomabszorpciós szinképelemzés | 97 |
| Emisszió, abszorpció és fluoreszcencia lángokban | 97 |
| Atomabszorpciós spektrometria elektrotermikus atomizálással | 100 |
| Speciális atomabszorpciós eljárások | 101 |
| A háttérabszorpció korrekciójja | 102 |
| Felületi elemeloszlás viszgálata különböző spektroszkópiai módszerekkel | 105 |
| A felületvizsgálat feltételei és módszerei | 105 |
| A felületvizsgáló módszerek jellemzése | 105 |
| Elektronsugaras mikroanalizis /EMA, EPMA/ | 108 |
| Lézer és tömegspektrométer kombinációja /LAMMA/ | 109 |
| Ion-mikroszonda /IMMA/ | 110 |
| Auger-elektronspektroszkópia /AES/ | 112 |
| Fotoelektron-spektroszkópia /PES/ | 115 |
| Tárgymutató | 119 |
Nincs megvásárolható példány
A könyv összes megrendelhető példánya elfogyott. Ha kívánja, előjegyezheti a könyvet, és amint a könyv egy újabb példánya elérhető lesz, értesítjük.
Folytatás Microsoft-tal