LSI-VLSI áramkörök felépítése, tesztelése, alkalmazása

Szerző

Dr. Masszi Ferenc

Dr. Szamosközi Zoltán

Szerkesztő

Dr. Szalai Pálné

Lektor

Saufert János

Budapest

'Dr. Masszi Ferenc: LSI-VLSI áramkörök felépítése, tesztelése, alkalmazása ' összes példány

Kiadó:	Műszaki Könyvkiadó
Kiadás helye:	Budapest
Kiadás éve:	1985
Kötés típusa:	Vászon
Oldalszám:	406 oldal
Sorozatcím:
Kötetszám:
Nyelv:	Magyar
Méret:	24 cm x 18 cm
ISBN:	963-10-6350-X
Megjegyzés:	Fekete-fehér ábrákkal.

Értesítőt kérek a kiadóról

A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról

Tartalom

Előszó	9
Bevezetés (Írta: dr. Masszi Ferenc)	11
A mikroelektronika fejlődésének legfontosabb következményei	11
Az integrált áramkörök fejlődése, a fejlődés korlátai	15
A VHSIC program	23
A program célkitűzései	23
A program ütemezése	26
A VLSI dáramkörök megjelensésének hatása az elektronika néhány területére	26
Mikroprocesszorok, mikrogépek	26
Hírközlő rendszerek	29
Igen nagy sebességű áramkörök	31
Irodalom	34
Technológia és konstrukció (Írta: dr. Masszi Ferenc)	35
Nagybonyolultságú integrált áramkörök gyártásának technológiai problémái	35
A szilícium alapanyag	36
Új fotolitográfia	37
Szárazmarási módszerek	39
Újfajta szigetelőrétegek	42
Többrétegű reziszt-technika	42
Lézeres hőkezelés	43
Nemoptikai ellenőrző rendszerek alkalmazása	44
Technológiák, logikaiáramkör-rendszerek bipoláris (V)LSI áramkörökhöz	45
Nagybonyolultságú, bipoláris integrált áramkörök alapelemei	46
I2L áramkörök	50
ECL áramkörök	56
Nagybonyolultságú MOS áramkörrendszerek	58
MOS tranzisztor és nMOS alaptechnológia	58
Rövid csatornájú MOS tranzisztorok	60
MOS digitális alapáramkörök	67
Dinamikus alapáramkörök	76
Speciális MOS tranzisztorok nagybonyolultságú integrált áramkörök számára	83
Nagybonyolultságú integrált áramkörök számítógépes tervezési módszerei	85
Áramkörszimuláció	88
Logikai szimuláció	90
A számítógéppel segített layout tervezés	94
Félvezető tárak	98
Dinamikus MOS tárolócellák	98
töltéscsatoslt (CC) cella	109
Nagykapacitású (Hi-C) cella	110
Többszintes (STC) cella	112
VMOS cella	113
Átszúrásos RAM cellák	114
Eltemetett bitvezetékes (BBL, buried bit line) cella	115
Rétegezett töltésű (SCM, statified charge memory) cella	116
Fokozatosan elvékonyodó szigetelésű, dinamikus erősítésű (TIDG) cella	117
A különböző különleges cellák összehasonlítása	118
Berendezésorientált áramkörök	120
Full custom (egyedi tervezésű) áramkör	121
Library custom (előtervezett cellákból felépített) áramkörök	122
Félkész berendezésorientált áramkörök (semi custtom)	123
VLSI áramkörök tesztelhetőségre tervezése	123
A tesztelhetőség	123
A tesztelhetőség analízise és mérése	124
A tesztelhetőség számítása	124
A tesztelhetőségre tervezés módszerei	129
Önellenőrzés (self verification)	134
Irodalom	135
Tesztelés (Írta: dr. Szamosközi Zoltán)	137
A tesztelés problémaköre	137
Szintek	138
Költségek	139
Módszerek	140
RAM-ellenőrző algoritmusok	142
HIbamodellek	143 143
Lépésszám	145
Realizálhatóság	156
A vizsgálatok összeállítása	158
Fixtárak ellenőrzése	167
Az etalonvizsgálat	170
Tárolt mintás vizsgálat	171
Adatkompressziós módszerek	172
Az adattárolási idő ellenőrzése	179
A módszerek alkalmazása	180
Mikroprocesszorok vizsgálati módszerei	181
Hibaosztályok	182
Mérési stratégia	185
Diagnosztikai tesztek	189
Mintagenerálási lehetőségek	193
Néhány példa	194
A tesztelés ára	198
Az áramkörök gyártási költsége	199
A tesztelési költség modellezése	202
Mintapéldák a tesztelés költségtényezőinek számítása	205
Irodalom	208
LSI-VLSI mérőrendszerek (Írta: dr. Szamosközi Zoltán)	215
Alapkövetelmények és alapstruktúrák	215
Az áramkör és a mérőrendszer-jellemzők kapcsolata	215
A mérési módszerek és a mérőrendszer-jellemzők kapcsolata	218
A mérőrendszerek általános felépítése	219
Univerzális és célorientált mérőrendszerek	222
Általános jellemzők	222
Mintagenerátor	226
Időzítőegység	243
Pinelektronika-vezérlő	262
DC egység	273
Dinamikus paraméterek mérése	279
Számítógép és perifériák	281
Kiegészítő információk	284
Egyszerű teszterek	288
Kiegészítő eszközök	293
Szoftver szolgáltatások	295
Alapszoftver	298
Mérőprogram készítésének támogatása	300
Statisztikai programok	301
Rendszerteszt	302
A megbízhatóságvizsgálat eszközei	303
A megbízhatatlanság okai	305
Burn-in teszterek	308
A hazai eredmények és a szocialista országokból beszerezhető eszközök	314
Az első generáció	315
A második generáció	333
A harmadik generáció	335
Példák megvalósított LSI-VLSI áramkörökre (Írta: dr. Masszi Ferenc)	343
16 bites mikroprocesszorok	343
Az Intel 8086	344
A Zilog Z 8001 és Z 8002	365
Berendezésorientált integrált áramkörök	390
Az U 400 típusú gate array	390
GA 800 típusú gate array	393
Irodalom	399
Tárgymutató	401