A kosaram
0
MÉG
5000 Ft
a(z) 5000Ft-os
szállítási
értékhatárig

Emissziós színképelemzés

Gyakorlati rész

Szerző
Szerkesztő
Lektor

Kiadó: Akadémiai Kiadó
Kiadás helye: Budapest
Kiadás éve:
Kötés típusa: Vászon
Oldalszám: 717 oldal
Sorozatcím:
Kötetszám:
Nyelv: Magyar  
Méret: 24 cm x 17 cm
ISBN: 963-05-0491-X
Megjegyzés: Fekete-fehér ábrákkal illusztrált.
Értesítőt kérek a kiadóról

A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról
A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról

Fülszöveg

Az Emissziós színképelemzés II. kötete a módszer gyakorlati alkalmazási területeit (kohászat, vegyipar, biológia, kriminalisztika stb.) mutatja be. Célja, hogy mind a tudományos, mind az ipari szakember számára lehetővé tegye a munkájához legmegfelelőbb eljárás kiválasztását és felhasználását. Ismerteti a különféle anyagok mintavételét és vizsgálatra való előkészítését. Ezután a vizsgálatot befolyásoló fizikai és kémiai hatások bemutatása következik. Mindezeket a legkorszerűbb elméleti összefüggések és gyakorlati tapasztalatok, megfigyelések alapozzák meg. Külön-külön fejezet foglalkozik a legmodernebb spektrográfiás, spektrometriás és spektroszkópos elemzési eljárásokkal, valamint gyakorlati kivitelükkel. A szerzők összefoglalják a hibaszámításra vonatkozó matematikai-statisztikai módszereket is. Táblázatok sora segíti elő a könyv gyakorlati felhasználását. Az egyes fejezeteket gazdag irodalomjegyzék zárja le.

Tartalom

Bevezetés
A vizsgálati anyag előkészítése
Általános szempontok17
Fémek, ötvözetek mintavétele és előkészítése18
Általános megjegyzések18
Mintavétel félkész- és készáru elemzéséhez20
Forgácsminták vétele. Forgácsok, fémporok, kisméretű tömegtermékek előkészítése21
Öntött próbák vétele és előkészítése25
Kontakt mintavétel30
Összehasonlító minták, etalonok, ellenőrző és beállító próbák31
Nagy tisztaságú fémek előkészítési problémái. Elemnyomok dúsítása. Záródmányok izolálása34
Nemvezető szilárd anyagok mintavétele és előkészítése38
Általános szempontok38
Az anyag porítása és homogenizálása. Adalékok41
Brikettezés46
Feltáró ömlesztés47
Savas, lúgos elbontás. oldás49
Nyomelemek dúsítása fizikai eljárással51
Szilárd szerves anyagok előkészítése színképelemzéshez51
Nagy tisztaságú nemvezető anyagok és radioaktív anyagok különleges problémái53
Összehasonlító minták, etalonok. Vonatkoztató anyagok55
Oldatok és cseppfolyós anyagok mintavétele és előkészítése56
Általános szempontok56
Nyomelemek dúsítása oldatból kémiai eljárással57
Nemvizes oldatok, cseppfolyós szerves anyagok előkészítése73
Oldatos összehasonlító minták készítése. Vonatkoztató anyagok, adalékok73
Gázok mintavétele és előkészítése75
Általános megjegyzések75
Gázok elválasztása fizikai és kémiai eljárással76
Vonatkoztató anyagok, etalonok77
Sugárforrások
Általános megjegyzések79
Sugárforrások fémminták vizsgálatához80
Azonos anyagú elektródpáros eljárás80
Ellenelektródos eljárás85
Kis tömegű fémminták elgőzölögtetése88
Forgatott fémminták92
A kisülés stabilizálása gázárammal és külső mágneses térrel94
Kisülés kisnyomású gázokban98
Közbenső standardos eljárás100
Fémolvadék-elektródos eljárás102
Helyi mikroszínképelemzés106
Sugárforrások nemvezető szilárd anyagok vizsgálatához111
Porminták elgőzölögtetése segédelektród furatából111
Brikettek gerjesztése119
Ív stabilizálása segédeszközökkel123
Részleges elgőzölögtetés különleges berendezésekkel125
Porminták folyamatos bevitele a sugárforrásba129
Porok folyamatos beszórása a kisülésbe132
Szilárdszemcsés aeroszol előállítása és befúvatása a kisülésbe135
Nehezen gerjeszthető elemek vizsgálata130
Lézer-mikroszínképelemzés. Biológiai vizsgálatok143
Sugárforrások nemvezető cseppfolyós anyagok, oldatok vizsgálatához145
Elektródra szárított anyag vizsgálata145
Kapilláriselektródos eljárás150
Szivárgóelektródos eljárás152
Forgókorongos eljárás155
Porlasztásos eljárás160
Oldat betáplálása stabilizált ívbe, plazmaégőbe, nagyfrekvenciás plazmalángba167
Sugárforrások gázok vizsgálatához170
Általános megjegyzések170
Gázkeverékek elemi összetételének meghatározása kisülési csövekben171
Fémek gáztartalmának meghatározása173
Gázok fémtartalmának vizsgálata175
A vonalak intenzitását befolyásoló kísérleti körülmények
Általános szempontok177
Összefüggés a koncentráció és a vonalak intenzitásviszonya között177
A gerjesztés körülményeinek szerepe180
A gerjesztés elektromos paramétereinek hatása182
A gerjesztés időtartamának hatása182
Az elemzőköz geometriai adatainak befolyása188
Külső mágneses tér szerepe az egyenáramú ívgerjesztésnél192
A minta állapotváltozásainak hatása199
A minta fizikai állapotának szerepe199
Az elemek közötti hatás202
A pufferhatás212
A vivőhatás216
A diffúzió szerepe218
A minta kémiai jellemzőinek szerepe223
Az elemző fényforrást körülvevő gázatmoszféra szerepe230
Az idegen sugárzások és az abszorpció hatása240
Általános megjegyzések240
A háttérsugárzás242
A vonalegybeesés242
A külső szennyezés sugárzása244
Az önabszorpció245
A plazma sugárzásának térbeli és időbeli eloszlása246
Általános megjegyzések246
A sugárzás térbeli eloszlása247
A sugárzás időbeli eloszlása251
A vonatkoztató elem, az összehasonlító minták és az elemzővonalpárok kiválasztása253
Általános szempontok253
A vonatkoztató elem254
Az összehasonlító minták254
Az elemzővonalpárok255
Spektrográfiás elemzés
Bevezetés259
Az eljárás alapelve, felosztása és jelentősége259
Színképlemezek és filmek260
Színképfelvételek előhívása262
A fotoemulziók rögzítése, kimosása és szárítása267
A felvételek gyors kidolgozása268
Az elemek spektrográfiás kimutatása270
Az eljárás alapja270
Elemek általános kimutatására alkalmas színképek elkészítése274
Színképek minőségi kiértékelése277
Elemnyomok kimutatása282
A kimutatási határ287
Tájékoztató elemzés294
Az eljárás lényege294
Az összehasonlító színképek módszere296
Utolsó vonalak módszere298
A homológ vonalpárok módszere300
Az izomelán eljárás303
Harvey módszere308
Hígításos és teljes elpárologtatásos eljárások309
Logaritmusos forgótárcsás módszer312
A színvonal-szélesség mérésén alapuló módszerek315
Effektív vonalszélességen alapuló eljárások319
A különböző mennyiségi kiértékelő eljárások322
Általános szempontok322
Összehasonlító mintás eljárások323
Általános analitikai görbés módszer327
Beállító mintás módszer330
Addíciós módszer334
A hozzáadás és hígitás módszere342
A hígítás, hozzáadás és hígítás módszere345
Az "izosec" és "anizosec" kompenzáció módszere347
A mennyiségi kiértékelés alapműveletei352
Általános szempontok352
A fotometrálás354
Az emulzióhitelesítés általános alapelvei360
Az intenzitásjelpárok361
A P-transzformáció gyakorlati kivitele364
Az l-transzformácó gyakorlati alkalmazása368
A háttérkorrekció373
Zavaróvonal-korrekció374
Vakérték-korrekció375
A cx koncentráció kiszámítása a c'x relatív koncentrációból383
Kiértékelő készülékek386
Általános megjegyzések386
Részletkiértékelő készülékek387
Teljes kiértékelő padok és lécek399
Színképfelvételek teljesen automatizált kiértékelése408
Munkaelőírások a spektrográfiás elemzéshez417
Általános megjegyzések417
Acélelemzés417
Alumíniumötvözetek elemzése420
Rézötvözetek elemzése421
Ólomötvözetek elemzése422
Magnéziumötvözetek elemzése422
Cinkötvözetek elemzése422
Nemvezető anyagok elemzése422
Új módszerek kidolgozása423
A spektrográfiás laboratórium telepítése, munkaszervezése és gazdaságossága427
A műszerek és segédberendezések megválasztása427
A laboratóriumi helyiségek kialakítása429
A laboratórium munkaszervezése431
Munkavédelem433
Gazdaságossági számítások434
Spektrometriás elemzés
Az eljárás elnevezése és kifejlődése437
A spektrometriás elemzési eljárás alapelveiről általában439
A spektrométeres berendezések alapelvei439
A berendezések osztályozása439
Intenzitásmérő adapterek441
Letapogató spektrométerek4444
Rögzített kilépőrésű sokcsatornás spektrométerek446
Különleges közvetlenleolvasó berendezések449
A spektrometriás kiértékelés455
Általános megjegyzések455
Az intenzitásviszony mérésén alapuló kiértékelés alapelvei455
Vonatkoztatóelem-korrekció463
Többcsatornás intenzitásviszony-mérő kiértékelés módszerei469
Többcsatornás elektromos analóg számítógépes kiértékelő berendezések elve471
Kiértékelés digitális számítógépes eljárással477
Az intenzitásviszony logaritmusának mérésén alapuló kiértékelés alapelve479
A legkedvezőbb kísérleti körülmények megválasztása és a módszerek alkalmazása484
Általános szempontok484
Az elemzővonalpárok megválasztása485
Fémelemzés487
Nemvezető és egyéb nemfémes anyagok elemzése488
A spektrometriás és spektrográfiás eljárás összehasonlítása489
A spektrometriás laboratórium telepítése, munkaszervezése és gazdaságossága495
A készülékek és segédberendezések megválasztása495
A laboratórium telepítése497
A munkaszervezés498
A laboratórium gazdaságossága498
Spektroszkópos elemzése
Az eljárás lényege, jellemvonásai és alkalmazási területe501
Mintavétel és előkészítés502
Gerjesztés504
A spektroszkópok507
Általános szempontok507
Egyszerű spektroszkópok508
Intenzitásmérő spektroszkópok511
Hordozható spektroszkópok519
Kombinált spektroszkópok521
A kiértékelő eljárások alapelvei523
Általános szempontok523
Az elemzővonalak kiválasztása523
Összehasonlító színképek módszere525
Az utolsó vonalak módszere526
Kronométeres kiértékelő eljárás527
A homológ vonalpárok módszere527
Kiértékelés az intenzitásviszony mérésével528
A spektroszkópos elemzés gyakorlati kivitele530
Általános megjegyzések530
Acélelemzés531
Alumíniumötvözetek elemzése532
Rézötvözetek elemzése533
Egyéb fémötvözetek és nemvezető anyagok vizsgálata, új módszerek kidolgozása533
A spektroszkópos laboratórium telepítése, munkaszervezése és gazdaságossága534
A laboratórium berendezése és telepítése534
Munkaszervezés, munkavédelem536
A spektroszkópos laboratórium gazdaságossága538
A mérési eredmények értékelése
A hibaszámítás alapjai541
A középérték és a véletlen hiba541
A hibaeloszlás és a megbízhatósági intervallum543
Kiugró mérési eredmények statisztikai meghatározása547
Két középérték összehasonlítása548
Több párhuzamos mérési sorozat középértékeinek összehasonlítása549
A hibák tovaterjedésének törvénye551
A rendszeres hiba551
A mérési pontok által meghatározott legvalószínűbb egyenes megszerkesztése553
A hibaszámítás alkalmazása a mennyiségi színképelemzés területén554
A mennyiségi színképelemzés mérési eredményeinek matematikai-statisztikai értékelése554
A szórásdiagram557
Homológ vonalpárok kiválasztása szórásdiagram segítségével561
Homogenitásvizsgálatok564
Táblázatok
Néhány fizikai-kémiai állandó567
Hullámhossz-táblázatok a spektrográfiás minőségi elemzéshez609
Homológvonalpár-táblázatok a spektrográfiás tájékoztató elemzéshez619
Számtáblázatok a spektrográfiás mennyiségi elemzéshez629
Táblázatok a spektroszkópos elemzéshez689
Táblázatok a mérési eredmények hibaszámításához699
Tárgymutató708
Hibajegyzék az Elméleti Részhez713
Megvásárolható példányok

Nincs megvásárolható példány
A könyv összes megrendelhető példánya elfogyott. Ha kívánja, előjegyezheti a könyvet, és amint a könyv egy újabb példánya elérhető lesz, értesítjük.

Előjegyzem
konyv