kiadvánnyal nyújtjuk Magyarország legnagyobb antikvár könyv-kínálatát
| Kiadó: | Műszaki Könyvkiadó |
|---|---|
| Kiadás helye: | Budapest |
| Kiadás éve: | |
| Kötés típusa: | Ragasztott papírkötés |
| Oldalszám: | 259 oldal |
| Sorozatcím: | |
| Kötetszám: | |
| Nyelv: | Magyar |
| Méret: | 24 cm x 17 cm |
| ISBN: | 10-6794-7 |
| Megjegyzés: | 178 fekete-fehér ábrával illusztrálva. Tankönyvi szám: 61356. |
| Előszó | 7 |
| Mérési módszerek mikroprocesszoros áramkörök vizsgálatára | 9 |
| Időzítésvizsgálat | 11 |
| Állapotvizsgálat | 19 |
| Szoftveranalízis | 27 |
| Signature-analízis | 32 |
| Rövidzárkeresés | 36 |
| Mikroprocesszoros rendszerek vizsgálatára alkalmas műszerek | 41 |
| Oszcilloszkópok | 41 |
| Szintjelzők, komparátorok, impulzusadók | 51 |
| Logikai analizátorok | 57 |
| A logikai analizátorok felépítése és működése | 57 |
| A logikai analizátorok jellemzői | 69 |
| Digitális jelforrások | 97 |
| Impulzusgenerátorok | 99 |
| Szógenerátorok | 101 |
| Kombinált generátor/analizátor rendszerek | 110 |
| Interfész-analizátorok | 110 |
| Mikroprocesszorsín-vizsgálat | 110 |
| Készülékek az IEC 625/IEEE 488 interfész vizsgálatára | 113 |
| Soros-interfész analizátorok | 126 |
| Mikroprocesszoros fejlesztőrendszerek | 133 |
| Hordozható szervizműszerek | 142 |
| Szimulációs elven működő mikroprocesszor-hibakeresők | 143 |
| Signature-analizátorok | 148 |
| Áramútvizsgálók | 152 |
| Mérések mikroprocesszoros áramkörökben | 157 |
| A mikroszámítógépek hardver- és szoftverelemei | 157 |
| A hardver ellenőrzése | 162 |
| A CPU vizsgálata | 163 |
| ROM-ok vizsgálata | 166 |
| RAM-ok vizsgálata | 167 |
| B/K egységek vizsgálata | 168 |
| A szoftver ellenőrzése | 168 |
| A szoftvertesztelhetőség előfeltételei | 170 |
| A szoftver ellenőrzésének lépései | 173 |
| Programhibák javítása | 176 |
| Tárak működésének vizsgálata | 176 |
| A floppy-diskek felépítése és működése | 177 |
| A floppy-diskek hibái | 179 |
| Floppy-diskek vizsgálata | 181 |
| Adatátvitel-tesztelés | 185 |
| Környezeti hatások vizsgálata | 190 |
| Elektromos zavarok hatása | 190 |
| Klimatikus hatások | 193 |
| A környezeti szennyezés hatása | 194 |
| Gyakorlati tanácsok | 195 |
| Általános tanácsok a hibakereséshez | 195 |
| A mikroprocesszoros berendezésekben végzett hibakeresés sajátosságai | 197 |
| Kezelési tanácsok | 199 |
| Tesztelhetőség beépítése mikroprocesszoros berendezésekbe | 203 |
| Öntesztprogramok | 203 |
| ROM teszt | 204 |
| RAM teszt | 206 |
| B/K teszt | 207 |
| Öntesztelés hardverelemekkel | 210 |
| Az öntesztelő program beépítése a hardverbe | 211 |
| Kódellenőrző- és korrekciós áramkörök | 213 |
| Speciális ellenőrző-áramkörök | 219 |
| Általános tervezési szempontok | 232 |
| Az öntesztfunkció ellenőrzése | 234 |
| Függelék | 235 |
| Irodalom | 251 |
| Tárgymutató | 257 |