Röntgen és elektronsugaras analízis

Kézirat

Szerző

'Dr. Gál Sándor: Röntgen és elektronsugaras analízis ' összes példány

Kiadó:	Tankönyvkiadó Vállalat
Kiadás helye:	Budapest
Kiadás éve:	1982
Kötés típusa:	Ragasztott papírkötés
Oldalszám:	166 oldal
Sorozatcím:
Kötetszám:
Nyelv:	Magyar
Méret:	24 cm x 17 cm
ISBN:
Megjegyzés:	Kézirat. A könyv tankönyvi száma: J 6-614. 315 példányban jelent meg.

Értesítőt kérek a kiadóról

A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról

Fülszöveg

Wilhelm Conrad Röntgen, német fizikus 1895-ben új sugárzást fedezett fel, melyet X-sugárzásnak nevezett el. Az angolszász és francia irodalom ma is ezt az elnevezést használja, a német és a magyar irodalom Röntgen nevével jelöli a sugárzást.
A röntgensugár legfeltűnőbb sajátossága, hogy áthatol összefüggő anyagokon, így üvegen, vékony filmlemezen, műanyagon, az emberi szervezeten stb. Bizonyos anyagokat fény kibocsátására (fluoreszkálásra) gerjeszt, a levegőt és más gázokat vezetővé teszi (ionizálja), a fényképező lemezre pedig úgy hat, mint a közönséges fény.

Tartalom

Röntgenanalitika (Dr. Gál Sándor)	3
Bevezetés	3
Elvi alapok	4
Röntgencsövek	10
Röntgengenerátor	12
Röntgensugárzás abszorpciója és szórása	16
Röntgendiffrakciós módszerek	18
Álló egykristály felvétel	21
Mozgó egykristály felvétel	21
Polikristályos anyagok vizsgálata	23
Debye Scherrer kamrák	25
Preparátum és preparátum tartó	25
Résrendszer	27
Filmkazetta	29
Filmfelrakási rendszerek	30
Megvilágítás idje	33
Felvétel értékelése	35
Mérőléccel történő mérés	35
Komparátorral történő mérés	36
Koincidenciás mérőléccel történő mérés	37
Spektroszkópiai fotométerrel történő mérés	37
Rácssiktávolságok kiszámolása	37
Kimérés hibájának függése a szögtartománytól	38
A rácsmeghatározásnál fellépő hibák	38
A kamrasugár pontatlansága	39
A minta abszorpciója	39
Fotografikus intenzitás mérés	41
Becslés utján történő intenzitásmérés	41
Vonalintenzitás műszeres mérése	42
Fotografikus intenzitás mérés hibaforrásai	43
Emulzió hiba	43
Denzitométer pontatlansága	44
Mérő személy által elkövetett hibák	44
Minőségi elemzés, fázisazonosítás	44
ASTM kartotékrendszer használata	46
Az ASTM rendszer hibái	50
Mennyiségi röngendiffrakciós analízis	50
Belső standard módszer	52
Higitásos módszer	53
Dusítási módszerek	53
Frakciónálás	53
Fajsulyszerinti szétválasztás	54
Oldószeres kezelés	54
Hőkezelés	54
A porfelvételi eljárás továbbfejlesztése	55
Fókuszáló kamrák	55
Diffraktometer	58
Sugárabszorpció	60
Kvantumszámlálási hatásfok	60
Lineáris intenzitásátvitel	61
Számlálók megbízhatósága, háttéreffektus és a jelek diszkriminálhatósága	61
A diffrakciós kép felvétele automatikusan működő diffraktométerrel	62
A röntgendiffrakció egyéb alkalmazásai	67
Röntgenfluoreszcens analízis	68
Elektronsugárral történő gerjesztés	69
Röntgensugárzással történő gerjesztés	70
Radioaktív izotópokkal történő gerjesztés	72
Gerjesztett sugárzás felbontása	73
Detektorok	76
Regisztrálóegység	77
Minőségi elemzés	79
Minta előkészítése	79
Mennyiségi elemzés	81
Pontosság és érzékenység statisztikai értékelése	82
Az optikai szinképelemzés összehasonlítása a röntgenszinképelemzéssel	84
A röntgenfluoreszcens analízis néhány alkalmazása	85
Cementipari elemzések	85
Minta előkészítése	85
Kiértékelési módszer	86
Mérési körülmények	86
Folyamatos mérésre alkalmas röntgenfluoreszcens berendezés	88
Mérési pontosság és mérésidő	91
Folyamatos rétegvastagság-mérés	92
Irodalom	94
Elektronmikroszkópia (Dr. Buzágh Aladárné)	97
Bevezetés	97
Transzmissziós elektronmikroszkópia	98
Felbontóképesség	98
Leképezés elektronsugarakkal	100
Szabad elektronok előállítása, gyorsítása	100
Az elektronok irányítása	101
Sugármenet az elektronmikroszkópban	103
Az elektronlencsék hibái	104
Az elektronmikroszkópos kontraszt	106
A transzmissziós elektronmirkoszkópok felépítése	108
A minta előkészítése transzmissziós elektronmikroszkópos vizsgálatra	112
Diszpergált anyagok preparálása	112
Lenyomatok (replika) készítése	114
Vékonyréteg készítése	115
Változások az anyagban elektronmikroszkópos vizsgálat közben	116
Az elektronokkal történő leképezés egyéb módjai	116
Pászázó (scanning) elektronmikroszkóp	118
Képkontraszt a pásztázó elektronmikroszkópban	118
A pásztázó elektronmikroszkóp felépítése és üzemmódjai	119
Az elektronmikroszkóp alkalmazási területei	122
Diszpergált részecskék morfológiájának és méreteinek meghatározása	123
Az elektronmikroszkóp alkalmazása a mikrokémiában	127
Felületek vizsgálata	128
Elektrondiffrakció	136
Lektronmikroanalízis (Pólós László)	139
A mérés elve	140
A gerjesztő feszültség beállítása	142
A karakterisztikus sugárzás felbontása	144
A röntgensugárzás érzékelése	145
Egyéb információk a mérés során	146
A minta előkészítése	148
Minőségi elemzés	149
Mennyiségi elemzés	151
A valódi értéktől való eltérés	152
A mennyiségi elemzés a gyakorlatban	154
A pontelemzés	154
Vonalmenti elemzés	154
Felület elemzés	154
Gyakorlati alkalmazások	155
Ujabb fejlődési irányok	158
Ionsugár mikroanalizátor	158
Irodalom	160

Témakörök

Megvásárolható példányok

Nincs megvásárolható példány
A könyv összes megrendelhető példánya elfogyott. Ha kívánja, előjegyezheti a könyvet, és amint a könyv egy újabb példánya elérhető lesz, értesítjük.

Előjegyzem