| Előszó a Minőségmenedzsment sorozathoz | 9 |
| Bevezetés | 11 |
| Valószínűségelméleti és matematikai statisztikai alapok | 13 |
| A szükséges valószínűségelméleti és matematikai statisztikai alapismeretek összefoglalása | 13 |
| Alapfogalmak | 13 |
| A legfontosabb diszkrét eloszlások | 20 |
| A hipergeometrikus eloszlás | 21 |
| A binomiális eloszlás | 22 |
| A Poisson-eloszlás | 23 |
| A legfontosabb folytonos eloszlás: normális eloszlás | 25 |
| Eloszlások közelítése | 30 |
| A hipergeometrikus eloszlás közelítése binomiális eloszlással | 30 |
| A binomiális eloszlás közelítése Poisson-eloszlással | 30 |
| A binomiális eloszlás közelítése nomális eloszlással | 31 |
| A Poisson-eloszlás közelítése normális eloszlással | 35 |
| A statisztikai következtetés | 37 |
| A minta statisztikai jellemzői | 37 |
| A számtani középérték | 37 |
| A centárlis határeloszlási tétel | 39 |
| A normális eloszlású minta szórásnégyzetének eloszlása: X2 (khi-négyzet)-eloszlás | 39 |
| t-eloszlás (Student-eloszlás) | 42 |
| F-eloszlás | 44 |
| Diszkrét eloszláshoz vezető mintavétel | 45 |
| Paraméterbecslés | 46 |
| Pontbecslés | 46 |
| Intervallumbecslés | 46 |
| Hipotézisvizsgálat, statisztikai próbák | 50 |
| u-próba | 50 |
| Első- és másodfajú hiba | 56 |
| X2-próba a variancia vizsgálatára | 62 |
| Két szórásnégyzet összehasonlítása (F-próba) | 64 |
| A t-próba | 66 |
| Illeszkedésvizsgálat | 71 |
| A tárgyalt statisztikai próbák áttekintő táblázata | 78 |
| Ellenőrző kártyák | 81 |
| Bevezetés a statisztikai minőségszabályozásba | 81 |
| Stabilitás és képesség | 81 |
| Az ellenőrző kártyák statisztikai háttere | 82 |
| A vizsgált hipotézis | 83 |
| Első- és másodfajú hiba | 85 |
| A kimutatható eltérés nagysága: a jelleggörbe | 86 |
| Rendszeres mintavétel és hipotézisvizsgálat: ellenőrző kártya | 87 |
| Az ellenőrző kártyák használata | 90 |
| Előzetes adatfelvétel és gyártásközi ellenőrzés | 90 |
| A mintavétel megszervezésének szempontjai | 92 |
| Átlagos sorozathossz | 94 |
| A Shewhart-kártya érzékenyebbé tétele az időbeliség vizsgálatával | 96 |
| Az ellenőrző kártyák fajtái | 99 |
| A méréses ellenőrző kártyák szerkesztése | 100 |
| Az átlag-terjedelem kártya (a variancia becslése a terjedelemből) | 102 |
| Az átlag-szórás kártya (a variancia becslése a szórásból) | 107 |
| Az átlag-szórásnégyzet kártya (a variancia becslése a szórásnégyzettel) | 110 |
| Megjegyzések a kártyák paramétereinek kiszámításakor alkalmazott közelítésekről | 113 |
| A mintaelemszám változása vagy változtatása | 121 |
| Megjegyzés a külső előírásokkal készített ellenőrző kártyákhoz | 124 |
| Útmutató az átlag-kártya használatához | 124 |
| Mikor használjunk átlag-kártyát | 124 |
| Mikor ne használjunk átlag-kártyát | 125 |
| Az átlag-kártya előkészítésének és alkalmazásának lépései | 125 |
| Beavatkozási határok kijelölése a másodfajú hiba alapján ill. annak figyelembe vételével | 126 |
| Medián-kártya | 131 |
| Ellenőrző kártya egyedi értékekre | 133 |
| Mozgó terjedelem-kártya (MR chart) | 134 |
| Az alkalmazott statisztikai feltételezések, és az eltérések következményei (normális eloszlás, függetlenség, homoszcendaszticitás) | 136 |
| Bonyolultabb méréses ellenőrző kártyák | 138 |
| Mi a baj a Shewhart-kártyákkal | 138 |
| A CUSUM-kártya (halmozott összegek ellenőrző kártyája) | 141 |
| A CUMUS-kártya problémái és megoldásuk: FIR, kombinált (Shewart+) | 150 |
| Útmutató a CUSUM-kártya használatához | 153 |
| Mozgóátlag-kártya (MA chart) | 154 |
| EWMA kártya | 157 |
| A run test valamint a CUSUM és az EWMA-kártya összevetése | 160 |
| Trend esetén alkalmazható ellenőrző kártyák | 161 |
| Módosított határú átlag-kártya | 162 |
| Regressziós ellenőrző kártya | 163 |
| Több áram kezelése: csoport-kártyák | 164 |
| Folytonos ill. szakaszos gyártások kezelése | 167 |
| Elő-szabályozás | 168 |
| Ellenőrző kártyák rövid gyártási sorozatokra (short run charts) | 175 |
| Azonos variancia | 175 |
| Különböző variancia | 177 |
| Minősítéses ellenőrző kártyák | 178 |
| np-kártya | 178 |
| p-kártya | 190 |
| Hiba-kártyák | 197 |
| c-kártya | 198 |
| u-kártya | 203 |
| A méréses és minősítéses ellenőrző kártyák összevetése | 205 |
| A minősítéses ellenőrző kártyák összefoglaló táblázata | 206 |
| Szűkített határú idomszeres ellenőrzés | 206 |
| Méréses helyett minősítéses ellenőrzés | 208 |
| A mintaelemszám csökkentése minősítéses ellenőrző kártyáknál | 210 |
| Minősítéses ellenőrző kártyák rövid gyártási sorozatokra (short run charts) | 211 |
| Képességvizsgálatok | 212 |
| A folyamatképesség vizsgálata | 212 |
| Minőség-képességi indexek | 212 |
| A Taguchi-féle minőség-fogalom és a négyzetes veszteségfüggvény | 225 |
| A mérőeszközök képességvizsgálata | 235 |
| A reprodukálhatóság és ismételhetőség vizsgálata (AIAG R&R study) | 236 |
| Terjedelem-módszer | 237 |
| ANOVA-módszer | 242 |
| A mérés bizonytalanságának becslésére szolgáló további kísérleti tervek | 251 |
| Az AIAG R&R módszer kiterjesztése több faktor viszgálatára | 251 |
| A mérőműszer bizonytalanságának külön vizsgálata | 252 |
| Hierarchikus osztályozásra épülő tervek | 253 |
| Átvételi minőségellenőrzés | 257 |
| Az átvételi minőségellenőrzés alapelvei | 257 |
| Alapfogalmak | 258 |
| A szállító és a vevő kockázata, jelleggörbe | 258 |
| A mintavételi vagy ellenőrzési terv fogalma | 263 |
| A mintavételi tervek rendszerezése | 264 |
| Minősítéses és méréses átvételi ellenőrzés | 264 |
| A mintavétel módszerei | 266 |
| Az ellenőrzés lépcsőinek száma | 267 |
| Az átvételi ellenőrzés szigorúsága | 267 |
| Mintavételi tervek minősítéses ellenőrzéshez | 269 |
| Egylépcsős ellenőrzés kétpontos eljárással | 269 |
| Egylépcsős ellenőrzés a szabvány táblázatainak használatával | 270 |
| A táblázatok szerkezete | 272 |
| Áttérési szabályok a különböző szigorúsági fokozatok között | 276 |
| Javító ellenőrzés, átlagos kimenő hibaszint | 278 |
| Kétlépcsős ellenőrzés | 280 |
| A kétlépcsős mintavételi terv | 280 |
| Működési jelleggörbe | 282 |
| Átlagos mintaelemszám | 284 |
| A kétlépcsős ellenőrzés előnyei és hátrányai | 287 |
| Mintavételi tervek méréses ellenőrzéshez | 288 |
| Mintavételi tervek az eloszlás paraméterére | 289 |
| A várható érték vizsgálata egyoldali tűréshatár esetén, szigma ismert | 290 |
| A várható érték vizsálata kétoldali tűréshatár esetén, szigma ismert | 293 |
| A várható érték vizsgálata, szigma nem ismert | 295 |
| Mintavételi tervek a selejtarány ellenőrzésére | 296 |
| Mintavételi tervek a selejtarány ellenőrzésére a k-módszerrel | 298 |
| Mintavételi tervek a selejtarány ellenőrzésére az M-módszerrel | 300 |
| Átvételi ellenőrzési (mintavételi) tervek a szabvány táblázataiból | 301 |
| A minőség javítása | 306 |
| Minőségjavító kísérlettervezés | 306 |
| Taguchi-kísérlettervezés | 306 |
| A minőségre ható faktorok | 306 |
| Ortogonális kísérleti tervek | 308 |
| Az eremények értékelése, a jel/zaj viszony | 311 |
| Shainin-kísérlettervezés | 335 |
| Sokváltozós diagram (Multi-var charts) | 335 |
| Alkatrész-keresés (Component search) | 338 |
| Páronkénti összehasonlítás (Paired comparisons) | 339 |
| Változók keresése (Variables search) | 339 |
| Teljes faktoros kísérleti tervek (Full factorial) | 339 |
| B/C elemzés (Better versus Current) | 340 |
| Kétváltozós diagram (Scatter plot) | 341 |
| Esettanulmányok | 343 |
| Statisztikus folyamatszabályozás kialakítása üvegalkatrész gyártásánál | 343 |
| Gépipari termék minőségproblémájának megoldása | 360 |
| Irodalomjegyzék | 369 |
| Függelék | 371 |
| u-eloszlás eloszlásfüggvényének táblázata | 372 |
| X2-eloszlás kritikus értékei | 374 |
| Student-féle t-eloszlás kritikus értékei | 375 |
| Fisher-féle F-eloszlás kritikus értékei | 376 |
| Állandók a méréses ellenőrző kártyák paramétereinek számításához | 378 |
| Az MSZ 548 szabvány táblázatai minősítéses átvételi ellenőrzéshez | 379 |
| Az MSZ 213-82 szabvány táblázatai méréses átvételi ellenőrzéshez | 384 |
| A fontosabb angol szakkifejezések magyar megfelelője | 386 |
| Tárgymutató | 390 |
Folytatás Microsoft-tal